We are currently putting a "3D SEM" into operation. This is a CrossBeam 550 made by ZEISS Microscopy. As the name “3D” suggests, this system is fully equipped for 3D characterization in terms of software control and detectors. The 3D characterization can be done via image stacks combined with crystallographic (EBSD) as well as analytical (EDX / TOF-SIMS) information.
With the help of the new 3D SEM, MCL will be able to detect and measure trace elements down to a concentration of 5ppm. It is therefore an optimal tool to better characterize, for example, lithium in battery materials. The device’s mass spectroscopy also allows isotope distribution measurements and the identification of compounds.
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Neues „3D-REM“ am MCL
Wir nehmen gerade ein „3D-REM“ in Betrieb. Dabei handelt es sich um ein CrossBeam 550 der Firma ZEISS. Wie der Name „3D“ schon verrät ist diese Anlage hinsichtlich Softwaresteuerung und Detektoren voll in Richtung 3D Charakterisierung ausgestattet. Die 3D Charakterisierung kann über Bildstapel kombiniert mit christallographischer (EBSD) als auch analytischer (EDX / TOF-SIMS) Information erfolgen.
Mit dem 3D-REM wird es am MCL zukünftig möglich sein, Spurenelemente bis zu einer Konzentration von 5ppm nachzuweisen und zu vermessen. Es ist somit ein optimales Werkzeug um zum Beispiel Lithium in Batteriewerkstoffen besser charakterisieren zu können. Die Massenspektroskopie des Geräts ermöglicht auch eine Isotopenverteilungsmessung und das Identifizieren von Verbindungen.
